可靠性—HAST介紹

什么是HAST？ www.hast.cn

（Highly Accelerated Temperature And Humidity Stress Testing）即高加速應(yīng)力測(cè)試。通過對(duì)樣品施加高溫高濕以及高壓的方式，實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品加速老化的一種試驗(yàn)方法。廣泛用于PCB、IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn)，用于評(píng)估產(chǎn)品密封性、吸濕性及老化性能。

測(cè)試目的：

HAST是針對(duì)非氣密性封裝器件，主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度，濕度，壓力的各種條件來完成，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。

方法說明：

相比于傳統(tǒng)的高溫高濕測(cè)試，如85°C/85％RH，HAST增加了容器內(nèi)的壓力，使得設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果（如遷移，腐蝕，絕緣劣化，材料老化等），大大縮短可靠性評(píng)估的測(cè)試周期，節(jié)約時(shí)間成本?，F(xiàn)在，HAST高加速老化測(cè)試已成為某些行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)，特別是在PCB、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、顯示面板等產(chǎn)品中，作為標(biāo)準(zhǔn)高溫高濕測(cè)試（如85C/85%RH-1000小時(shí)）的快速有效替代方案。

常見的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

• GB/T 2423.40 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
• IEC 60068-2:66
• JESD22-A110D
• AEC Q101
• JIS C0096-2

其中：

1. GB/T 2423.40里面詳細(xì)闡述了對(duì)進(jìn)行HAST試驗(yàn)的試驗(yàn)箱的具體要求,如升降溫的時(shí)間、試驗(yàn)箱對(duì)溫濕度的精度控制要求等。

2. JSD22-A110D詳細(xì)闡述了HAST試驗(yàn)的方法，如建議的試驗(yàn)條件(如130°C85%RH)、產(chǎn)品Bias如何施加等，另外也對(duì)HAST的失效機(jī)理進(jìn)行了說明。

3. AECQ101明確了汽車電子行業(yè)對(duì)HAST的具體要求。

如：標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.40的試驗(yàn)方法：

應(yīng)用案例：PCBHAST

PCB為確保其長(zhǎng)時(shí)間使用質(zhì)量與可靠度，需進(jìn)行SIR(Surface Insulation Resistance)即表面絕緣電阻試驗(yàn)，找出PCB是否會(huì)發(fā)生離子遷移與CAF(陽(yáng)極導(dǎo)電細(xì)絲)現(xiàn)象，離子遷移與是在加濕狀態(tài)下(如：85℃/85%R.H.)，施加恒定偏壓(如：50V)，離子化金屬向相反電極間移動(dòng)(陰極向陽(yáng)極生長(zhǎng))，相對(duì)電極還原成原來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象。這種遷移往往會(huì)造成PCB導(dǎo)體間短路問題，是PCB非常重要的檢測(cè)項(xiàng)目。

設(shè)備參數(shù)