【產(chǎn)品介紹】
冷熱沖擊試驗箱用于測試各種材料在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。主要應用于半導體芯片、科研院校、質(zhì)檢、新能源、光電通訊、航空航天、汽車行業(yè)、LCD顯示、醫(yī)療等科技產(chǎn)業(yè)。
【產(chǎn)品參數(shù)】
1、溫度范圍：-40～+150℃
-65～+150℃
2、溫度偏差：±2.0℃
3、內(nèi)箱容積：80L、150L、225L
【運作原理】
兩箱式冷熱沖擊試驗箱又稱提籃式冷熱沖擊試驗箱，分為高溫室和低溫室，通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放提籃里。
【產(chǎn)品特點】
1、品質(zhì)保障。設備統(tǒng)一按照國際標準生產(chǎn)，關(guān)鍵器件采用進口產(chǎn)品，保證設備質(zhì)量；
2、精心設計。功能齊全、外觀大氣、結(jié)構(gòu)清晰、操作簡易、穩(wěn)定可靠；
3、設備應用。適用于當前電子產(chǎn)品測試、研究，以及半導體生產(chǎn)線大量篩選試驗，可大大節(jié)約耗材測試費；
4、操作簡易。10.4英寸觸控可程式彩色液晶顯示屏，操作簡易，狀態(tài)顯示、程序設定、故障排除等功能齊全，支持保存1000個自行編輯的實驗程序；
5、全新設計。預約啟動功能，減少等待時間，可設定循環(huán)次數(shù)、自動除霜等；
6、人性設計。蓄熱方式摒棄傳統(tǒng)液態(tài)氣體方式，避免職業(yè)傷害，測試槽完全靜止，可由測試孔外加負載配線；
7、節(jié)能降噪。采用高標器件，節(jié)能省耗，低噪音設計，減少音污染。
【參照標準】
GB/T2423.1-2008試驗A低溫試驗方法
GB/T2423.2-2008試驗B高溫試驗方法
GB-T10592-2008高低溫箱技術(shù)條件
GJB150.3-1986工業(yè)設備環(huán)境試驗方法：高溫試驗
GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求
【操作流程】
一、預處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩(wěn)定。
二、初始檢測：將被測樣品與標準要求對照，符合要求后直接放入高低溫沖擊試驗箱內(nèi)即可。
三、試驗：
1、試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內(nèi),并將試驗箱內(nèi)溫度升到指定點，保持一定的時間至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。
2、高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗箱內(nèi)，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。
3、低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗箱內(nèi)，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。
4、重復上述實驗方法,以完成三個循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時間可能會略有誤差。
四、恢復：試驗樣品從試驗箱內(nèi)取出后，應在正常的試驗大氣條件下進行恢復，直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。
五、結(jié)尾檢測：對照標準中的受損程度及其它方法進行檢測結(jié)果評定。
